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日期 |
上午：開幕式及基本理論講解 |
下午: 基本理論講解 |
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8.4 |
活動開始：主持人及領導講話（1個小時）
（邵建華） |
1．成像過程基本理論 （鄭世才老師） |
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1． 全國數(shù)字射線檢測技術研討活動的概介及近期與國外研究機構的交流學習情況介紹
（王曉勇） |
2．等價性評定問題 （鄭世才老師） |
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2．數(shù)字射線檢測技術基本理論 （鄭世才老師） |
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8.5 |
上午：輻射探測器講解 |
下午：數(shù)字射線檢測技術講解 |
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1．探測器 （鄭世才老師） |
1．探測器系統(tǒng)選擇 （鄭世才老師） |
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2．數(shù)字射線檢測技術系統(tǒng) （鄭世才老師） |
2．技術級別近似設計 （鄭世才老師） |
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3．數(shù)字射線檢測技術的幾個具體問題
（鄭世才老師） |
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8.6 |
上午：數(shù)字射線檢測技術及標準介紹講解 |
下午：數(shù)字射線檢測技術標準及實驗介紹 |
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1.ISO 17636-2：2013 規(guī)定內(nèi)容介紹
（王俊濤） |
1． ISO 17636-2：2013 補償規(guī)則說明
（鄭世才老師） |
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2.ISO 17636-2：2013 規(guī)定分析
（王俊濤） |
2． 總結：數(shù)字射線檢測技術的部分問題
（鄭世才老師） |
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8.7 |
上午試驗：數(shù)字射線檢測技術實驗 |
下午試驗：數(shù)字射線檢測技術實驗 |
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1．DDA輻射探測器基本空間分辨力測定（采用雙絲像質(zhì)計和線對卡分別測試） （王曉勇） |
1．DDA輻射探測器性能對缺陷檢驗影響
（王曉勇） |
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2．DDA輻射探測器規(guī)格化（標準、歸一）信噪比測定 （王曉勇） |
2．IP板掃描讀出參數(shù)對缺陷檢驗影響
（王曉勇） |
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3．DDA輻射探測器規(guī)格化（標準、歸一）信噪比與曝光量關系曲線測定 （王曉勇） |
3．放大倍數(shù)及曝光量對檢測圖像質(zhì)量（空間分辨力、對比度、信噪比）影響 （王曉勇） |
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4．IP板系統(tǒng)規(guī)格化（標準、歸一）信噪比與曝光量關系曲線測定 （王曉勇） |
4．尺寸及厚度差測量 （王曉勇） |
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8.8 |
上午：國內(nèi)、外最新技術動態(tài)講解 |
下午：數(shù)字射線檢測技術理論研討 |
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1．國內(nèi)數(shù)字射線檢測系統(tǒng)現(xiàn)狀，由華日公司主講 |
1．基礎理論知識研討 |
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2．介紹國外CR檢測系統(tǒng)、技術動態(tài)與發(fā)展，由北京合聚信達（VMI）公司主講 |
2．檢測系統(tǒng)問題研討 |
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3．介紹國外DDA輻射探測器技術動態(tài)與發(fā)展，由PE公司主講 |
3．檢測技術問題研討 |
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4．先進X射線機特點及在數(shù)字射線檢測方面的應用，由COMET公司主講 |
4．檢測技術標準研討 |
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5．介紹國外DR檢測系統(tǒng)、技術動態(tài)與發(fā)展，由 YXLON公司主講 |
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6．介紹膠片影像數(shù)字化掃描系統(tǒng)的發(fā)展與應用，由北京旺昌機械貿(mào)易有限公司 |
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8.9 |
上午：實驗與技術應用問題研討 |
下午：總結及閉幕式 |
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1．輻射探測器系統(tǒng)基本性能測定實驗問題研討 |
1．對技術研討活動進行總結（邵建華） |
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2．輻射探測器系統(tǒng)性能對缺陷檢驗影響 |
2．相關領導發(fā)言 |
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3．數(shù)字射線檢測技術與缺陷檢驗 |
3．頒發(fā)結業(yè)證書 |
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4．檢測系統(tǒng)的設計應用 |
4．宣布活動結束 |
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5．檢測技術在具體產(chǎn)品的檢測應用 |
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